核心原理差異

• 能量色散型（EDXRF）：無需提前分離 X 射線，探測(cè)器直接接收樣品發(fā)射的特征 X 射線，通過不同元素射線的能量差異快速區(qū)分元素，實(shí)現(xiàn)多元素同時(shí)檢測(cè)。
• 波長(zhǎng)色散型（WDXRF）：需先通過晶體衍射將不同波長(zhǎng)（對(duì)應(yīng)不同能量）的 X 射線分開，再逐一引導(dǎo)至探測(cè)器檢測(cè)，本質(zhì)是單元素依次分析。

關(guān)鍵性能與使用差異

• 檢測(cè)精度與分辨率：EDXRF 分辨率較低，相鄰元素特征峰易重疊，精度中等，適合半定量篩查；WDXRF 分辨率更高，能精準(zhǔn)區(qū)分相近能量元素，定量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性更優(yōu)，滿足高要求檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
• 檢測(cè)速度：EDXRF 檢測(cè)速度快，單次測(cè)量?jī)H需 60-200 秒，適配高效篩查需求；WDXRF 檢測(cè)周期長(zhǎng)，單元素依次分析需數(shù)分鐘至數(shù)十分鐘，更側(cè)重精準(zhǔn)定量。
• 成本與體積：EDXRF 結(jié)構(gòu)緊湊、體積小，采購成本和運(yùn)行成本較低，維護(hù)簡(jiǎn)單無需復(fù)雜校準(zhǔn)；WDXRF 體積龐大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜，采購和維護(hù)成本高，需定期保養(yǎng)晶體和探測(cè)器。

適用場(chǎng)景差異

• EDXRF 適合工廠生產(chǎn)線質(zhì)檢、海關(guān)快速查驗(yàn)、中小企業(yè)日常合規(guī)篩查，核心需求是高效便捷、低成本完成初步檢測(cè)。
• WDXRF 適合第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、高要求行業(yè)的合規(guī)性檢測(cè)，核心需求是數(shù)據(jù)精準(zhǔn)、結(jié)果具備權(quán)威性。